序号

名称

技术参数

数量

单位

备注

1

电感耦合等离子体发射光谱仪

1.仪器工作环境

电压：220VAC±10%

室温：环境温度（10-30）℃

相对湿度：（20-80）%RH

2.仪器总体要求

仪器为台式全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪；采用中阶梯光栅二维分光系统、自激式全固态射频电源和科研级CCD检测器。具有分辨率高、动态范围广、工作稳定和适用面广等优点，最多可以同时分析72个元素。仪器必需包括高频发生器、等离子体及进样系统、分光系统、检测器、分析软件和计算机系统，全自动控制。广泛应用于各行业的科研和生产过程分析，可方便的进行定性、半定量和精确的定量分析，是常量、微量和痕量无机元素同时分析的理想仪器。

3.性能指标

3.1 ★检测器：带高效半导体制冷的科研级防溢出面阵CCD检测器

3.1.1.检测单元：百万像素；

★3.1.2.紫外区平均量子化效率：独特的背投照射技术，使平均量子化效率≥75%，检测器表面无任何光转换化学涂膜；

★3.1.3.冷却系统：高效半导体制冷（三级TEC），制冷温度可达 -45℃，启动时间：＜3 分钟；

3.1.4.防饱和溢出：针对每一个像素进行防饱和溢出保护，彻底消除谱线饱和溢出问题；

3.1.5.积分方式：智能化积分，同时以最佳信噪比获得高强度信号和弱信号，使高低含量元素可以同时检测。

3.2 ★光学系统：恒温驱气型中阶梯分光系统

3.2.1.单色器：中阶梯光栅，全反射成像光路，石英棱镜二维色散系统；

★3.2.2.光室：精密恒温36℃±0.5℃，驱氩气或氮气；

3.2.3.焦距:380mm ；

★3.2.4.波长范围：165-870nm，全波长覆盖，可测Al 167.120nm；

3.2.5.波长校正: 每次点火，仅用C、N、Ar谱线，自动进行光谱位置校正，保证分析波长的正确性，无须波长校正溶液，无须汞灯或氖灯校准的预热和耗材问题；

3.2.6.吹扫型光室：对189nm以下波长测定，可选择氩气或者氮气进行光路吹扫；

3.2.7.杂散光：≤2.0mg/L（10000mg/L Ca溶液在As 188.980nm处测定）；

3.2.8.光学分辨率（FWHM）：可达7pm @200 nm（分辨率和检出限须在相同条件获得）。

3.3 等离子体

3.3.1.等离子体观察方式：水平；

3.3.2.尾焰去除：冷锥接口，高效去除尾焰；

3.3.3.冷锥接口无切割气体的消耗，降低运行成本；

3.3.4.RF发生器：全固态发生器，直接耦合、自动调谐，水冷；

3.3.5.频率：27.12MHZ，耦合效率大于80%；

3.3.6.RF功率稳定性: ≤0.1%；

3.3.7.RF频率稳定性：≤0.01%；

3.3.8.RF功率：750-1350W，连续可调，计算机控制进行功率调节。

3.4 进样系统

★3.4.1.炬管：可拆卸式炬管，快速插拔式连接；

3.4.2.雾化器：石英同心雾化器；

3.4.3.雾化室：石英旋流雾化室；

3.4.4.可选配耐高盐或耐HF的进样系统；

3.4.5.蠕动泵：12滚轮，高精度蠕动泵，泵速0-125rpm连续自动可调，全计算机控制。

3.4.6.气路控制：集成气路全自动控制，采用精密质量流量控制器控制雾化气的流量，精